10月27日-10月30日，北京离子探针中心承担的国家重大科学仪器设备开发专项项目“同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器”阶段性成果亮相“第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2015）”。

　　本届展会正值BECIA创立30周年。在科技部的支持下，BCEIA 2015首次设立“国家重大科学仪器设备开发专项阶段成果展”专区，共有44个参展项目单位的具有自主知识产权的133台/套仪器设备及关键部件参加展出。北京离子探针中心的展品包括自主研发的“TOF-SIMS一次离子源及离子光学系统”、“超高真空样品台及样品传送系统”，以及项目合作单位中国科学院大连化学物理研究所研发的“高精度及高分辨飞行时间质量分析器”，受到业内人士的广泛关注。中心特聘“李四光学者”赵建新教授还应大会组委会邀请，在质谱学分会上做学术报告，反响热烈。

　　北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA）自1985年创立以来，已成为国际上最具影响力的分析测试学科、学术交流和仪器设备展示的平台之一，推动并见证了我国分析测试科学和仪器自主研发的发展，营造了国内外学界和相关企业间交流与合作的良好环境。