9月17-18日，由中国地质学会岩矿测试技术专业委员会、国家地质实验测试中心组织举办的“第十一届全国X射线光谱学术报告会”在山东威海召开。

　　比利时皇家科学院院士、国际《X-Ray Spectrometry》主编R. Van Grieken教授、国家地质实验测试中心罗立强研究员、新里斯本大学M.L. Carvalho教授、国际原子能署C. Streli博士、中国科学院高能物理研究所高愈希研究员、中国科学院上海应用物理研究所魏向军研究员等近十位国内外X射线光谱领域著名学者进行了大会特邀报告。内容涵盖X射线光谱在文化遗产保护中应用，X射线光谱在纳米层和超薄材料的测量、计算和校准方法，大气颗粒物污染元素特征和来源分析，植物中pb的微区分布与形态，X射线光谱分析在葡萄牙16-17世纪油画特征的识别作用，X射线光谱在纳米科学和技术的应用，用同步辐射x射线荧光技术研究汞的植物毒理， XRF和ICP-AES取样量和浓度间关系对比，ED和WD XRF图像研究等。

　　大会为X射线分析青年工作者提供一个难得的高水平交流平台。青年学者就“微区XRF技术研究溶解性有机质对拟南芥吸收铅及铅形态变化的影响，利用三维共聚焦XRF光谱仪监测水溶液中钢片腐蚀情况，XRF分析中不同熔融方法的比对及全分析数据质量评价，同步辐射TXRF测定水中微量元素，Micro-XRF和XANES技术分析植物根表铁斑块、根中的Pb形态和分布，粉末压片-EDXRF测定岩石、土壤、水系沉积物中的稀土元素”等方面作了口头报告。

　　本次大会收到了基层X射线分析技术人员及青年学生的学术论文约30余篇，是近年来X射线光谱领域的又一次盛会，参会人员120余位，来自国内科研院所的地质、矿产、石油等各个领域，尤其是国内著名大学的多位XRF分析测试工作者也积极参会。同时，报告会的举行也得到了国内外仪器厂家帕纳科、斯派克和铂锐等公司的大力支持。

　　会议的召开，不仅拓展了国际学术交流空间，更开阔了国内X射线光谱分析发展的视野，并极大地促进了年轻科技工作者的快速成长，对推动我国X射线光谱分析发展、提高整体学术水平，具有重要影响。